주식회사휴먼시스템

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불량 원인 파악의 한계

불량 발생 후에도 원인 공정과 설비를 정확히 추적하기 어려움

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품질 데이터 분산

검사 결과, 설비 데이터, 작업 기록이 서로 분리되어 통합 관리 불가

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사후 대응 중심 관리

문제가 발생한 이후에야 대응이 이루어지는 품질 관리 구조

공정 기반 품질 관리

공정 흐름과 연계된 품질 기준을 설정하고
검사 결과를 공정 단위로 관리

실시간 품질 모니터링

생산 중 발생하는 품질 데이터를
실시간으로 수집·분석하여 즉각 대응

불량 원인 추적 체계

LOT, 설비, 작업자 기준의
정·역방향 품질 이력 추적

기능성

통계분석, 수율분석, 이미지 분석 등 다양한 모듈로 설비 엔지니어링 기법 제공

적합성

공정 및 설비 상황에 따라 달라지는 현장 맞춤형 최적의 툴 제공

용이성

품질, 설비, 공정 데이터의 순쉬운 연계 분석

SPC

Statistical Process Control

통계적 공정 관리 및 공정능력분석

DMS

Defect Management System

제품 내 Defect 분류 및 이미지 분석

Kams

kpi analysis management system

정의된 기간동안 특정 전략적 목표달성을 직관적으로 측정

kams-D/A

kams-Die Attach

반도체 패키징 Die Attach 공정에서
수율정보(WaferMap)를 활용한 생산자동화

kams-TEST

kams-Test Result Analysis System

반도체 디바이스 테스트 공정품질 관리

특장점 ①

공정별 품질 분석

공정 단위로 품질 상태를 분석하여
문제 공정 즉시 식별

특장점 ②

데이터 기반 품질 개선

누적된 품질 데이터를 활용한
지속적인 품질 개선 활동 지원

특장점 ③

AI Vision 연계 가능

AI 비전 검사 시스템과 연계하여
자동 검사 및 이미지 기반 품질 분석 확장

HM-QMS 도입 효과

불량 재발 방지 / 고객 클레임 대응 속도 향상 / 대외 신뢰도 상승

검사 업무 효율화 / 데이터 정확성 확보 / 품질 추세 관리 가능

인증·심사 리스크 감소 / 대기업·수출 거래 대응 가능 / 신규 거래처 확보 기반 마련